FATprobeシステムには下記に説明するように色々なユニットがある。その全てがPowerDevice（PowerMOSやIGBT）を測定する為のものだ。ではなぜFATprobeが誕生したか？それは今まで「パッケージでの測定」しか出来ないと思われていたこのパワーデバイス測定を「ウェハー」もしくは「ベアチップ」にて測定できないのか？そのニーズから生まれたといっても過言ではない。ではなぜ今までの測定はウェハーやチップで出来ていないか？それはデバイスの耐エネルギーが大きく、電圧、電流量が大きい為にとてもではないがプローブニードルが持たない。それを解決したのは男プローブ（DC用）であり、カレントリミッターでもある（L負荷測定用）。今回はDC測定のパラメータに関してまずは説明しよう

FAT Probeシステムと一言で言っても沢山のユニットから成り立つ。そのユニットとは

■DC測定ユニット
■キャパシタンス測定ユニット
■超微小電流測定ユニット（＜1pA）
■Lava測定ユニット
■Lsw・RBSOA測定ユニット
■男プローブ（静特性）ユニット
■Lavaウェハー測定ユニット（CLT）
■オート/セミオートプローバコントロールユニット
■テストフィクスチャーユニット

などがあり、それ以外にもさまざまなオプション、ユニットで構成されている。下記で紹介するのはその中でDC測定ユニットで測定が可能な種類とレンジを紹介する。

2008年7月25日現在ではまだ開発・実験中の男プローブはその仕様範囲を〜2000V、〜5A、〜10A、〜20A、〜50A、〜100Aのタイプを開発中。流せる電流量はプローブの先端径（接触面積）によって変化することになる。

実験中の男プローブはホームの
【各種消耗品】Probe/Card/Tools
から参照してみてもらいたい。