Ridgetop Group社の各種IPビジネス概要説明

ティアテックでIPビジネスを開始した。Ridgetop Group社はアメリカ・アリゾナ州に位置し、ここで米国内ではNASAやIBM等の会社と仕事を重ねている。そこのIPはとても面白いもので、大きく分けて4つの製品から成り立つ。それを今回は紹介しよう。サイトの反響がよければその詳細も後日サイトで紹介する事にする。

2008年4月

 

IP business概要

さて、この製品名ではイメージが分かり難い。特に英語の単語も難しいのが本音だ。そこで、英語の勉強も含めて、分かり難い部分を説明する。

【BIST】
Built In Self Testの略で、デバイスに埋め込んだ回路

【Sentinel】
見張り・番人・番兵。歩哨(プログレッシブ英和辞典)

【Prognostic】
予言・予想・きざし
・前兆(プログレッシブ英和辞典)

【PDK】
Process Development Kitの略でプロセス開発ツールの意

 

 

難しいので、日本語で簡単に大分類した

1.簡単BIST Insta-BIST
   簡単にBISTを入れる!BISTを提供

2.予測BIST Sentinel(Prognostic)
   未来故障予知!テストデバイス設計を提供

3.TEG測定BIST PDK Chek
   TEG測定をJ-TAGで高速測定、BISTを提供

4.既にある設計販売 Insta-CELL
   DACやADC等の設計されたIPを提供

 

日本語に訳したBIST製品群
測定項目ごとに切り分け

 

さて、それでも分かり難いIPだが、測定内容等のKey Wordを紹介することで、もう少しイメージを持ってもらおう。

1.Insta-BIST
  ソルダーバンプでの接触不具合を発見するBIST

2.Sentinel(Prognostic)
   信頼性試験で有名なTDDBやNBTIを予測するBIST

3.PDK Chek
   TEG測定でL/W効果を見るVthやIonの高速BIST

4.Insta-CELL
   既に設計された90nm世代のDACやADCがポイント

 

まずはInsta‐BISTの説明をする。

直訳で「簡単BIST」のこの商品、代表的な製品はSJ-BISTと呼ばれるSolder Joint欠陥発見用BISTである。

こんな悩みはないだろうか?対象デバイスはBGAで数百ピンあり、それが基板上に配置されている。するとお客様からは「壊れているっぽい」というクレームが入る。そのクレームに対応するべく、基板をテストして見るが、ファンクション的には動いている。しかし客は「おかしい、調子が悪い」とコメントがある。なにが本当なのだろうか?という状況だ。

これは双方間違えていない。つまり、デバイスとしては動いたり、動かなかったりしているのだ。では何が起きているか?多くの原因が半田ボール接合部での「微妙な接続」が起因している。それではその「微妙な接続」は起こるのか?これは基板にかかるストレス(応力や振動など)と温度がかなりの確率で起因する。

そこでこのBISTの登場だ。このBISTは調査をしたいシグナルピンの全てを自動的に測定し、【問題ない】【微妙】【問題あり】の3つに分けてくれる優れもの。デバイス自身にBISTを事前に入れておかなくてもFPGAのようなプログラマブルデバイスであれば信号ピンからBISTを後付けして入れる事が出来る。

半田故障

 

次にSentinel(Prognostic)の説明をする。

直訳で「予想BIST」のこの商品、代表的な製品はNBTITDDBと呼ばれる信頼性試験用BISTである。

こんな悩みはないだろうか?
■長期信頼性に陰りが見え始めてきた
■NBTI効果が大きく長期信頼性に影響し始めた
■出荷前にバーンインやその他の既存装置で
  信頼性試験のスクリーニングをしたい
■Userがデバイスが壊れて問題になる前に
  そろそろ壊れる!事を知りたい

これは難しい、現在は出来ない。信頼性試験は長時間測定だし、ましてや破壊試験だけにやっていないのが通常だ。信頼性破壊試験はパッケージやウェハー上でサンプリングで行うのが一般である。それを通常のラインでBIST形式でこのCELLを入れることにより、プロセスも似たが出来るのである。これは面白い。という事で現在紹介中である。

 

次にPDK Chekの説明をする。

直訳で「TEG測定BIST」のこの商品は、TEG測定のスピードアップと超低コストを提供するBISTです。

こんな悩みはないだろうか?
■TEGウェハーで大量に測定をしたいがPADの数が限定
  されており、 測定をしたいTEG数がウェハーに乗り切らない
■沢山測定したいのに時間がかかる・・・
■テスターの性能を生かしきれていない

そんな悩みを解決するのがこのBISTだ。TrやR、CをBIST内に配置、複数のデバイスをBISTに埋め込み、数十ピンで多くのTEGをBIST内に配置されているスイッチで高速切り替えをし、Vth、Ion、R、C等を精度良く測定することが高速で出来る。

 

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