テストフィクスチャー |
| プローバ、プロービング等でお馴染みのこの言葉、Probe、これは日本語で言う「探針」、つまり針で探る、という意味だ。これは大きな意味でテスターとデバイスをつなぐ部分は全てプロービングしている。と言う事になる。今回紹介するテストフィクスチャー（テストボックス）は自由に探針は出来ないが、固定されている（Fix）テストボックスを意味する。ほとんどの場合はパッケージ測定に用いられるが、ベアチップ（パッケージしていない状態のもの）にも適用可能。良い点は専用サイズで作られている為、挿してテスト！と移行が早い。悪い点はフレキシビリティーは少ない。今までティアテックとして沢山のテストフィクスチャーを作ってきた。その中でも有名どころを紹介しよう。 |
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2008年11月 |
 これはベアチップ用テストフィクスチャー |
 コネクタはトライアキシャル構造になっている |
 蓋は二重構造を採用、外側はノイズ対策用、内側は 実際のデバイスを抑え、接触GF（GramForce）を制御 ベアチップは割れやすい、GF制御がKeyになる |
 実際にチップが付く面とKelvin用ポゴピンを搭載 更に抑える蓋のほうにも電極が。両面コンタクト仕様 |
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 下面のパネルを付け替える事が可能 |
 48pin仕様のDIPパッケージ用フィクスチャーに早変り |
 上面と下面の両方を１枚で制作も可能 |
 配線などが複雑（コンポーネント装着等）に有効 |
 フィクスチャーの裏面 （安全用InterLock装備） |
 コネクタは指定のコネクタ可能（TRX、BNC、SMA等） |
 これはラック装着用フィクスチャー |
 システムラックに入り、配線が既にされている |
 小型テストフィクスチャー |
 SMU（SourceMeasureUnit）からダイレクトに 接続し、テストを行う。上記は４ピン対応型 テスターメーカやインテグレータの装置デバック にも活躍する代物。切り分け作業が早くなる。 |
 パワー素子を測定する為のフィクスチャ ヘッド一体型（右）やデバック用（上）などがある |
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テストフィクスチャーは色々な形状、用途がある為、そのほとんどがカスタムメイドになる。
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