上記がCSAの概要説明、最大で700ピン（2009年1月現在）測定が可能

CSAでは不安定な基板状態を超多ピンで検知するテストを可能とする測定器だ。

今までは・・・
■抵抗値をDMMや多ピンマトリクスなどを接続して測定
■配線が複雑
■装置が高価
■装置が大型
■測定対象基板を試験条件下に入れにくい

等の問題点があったが、それを改善し、

CSAでは
■1チップアナライザー搭載
■配線はフレキシブルコンタクタ利用可能
■装置が安価
■装置は小型
■対象物を試験条件下に入れやすい

という測定器になりました。この測定器の最大のポイントはIntermittent、つまり接続不安定状態の【数】をカウントする事にあります。数を数える事によって、試験条件下での不安定状態をカウントし、Go/NoGo（可/不可）という１と０の結果ではなく、どのように基板とデバイスに破壊現象がおきているのかをモニターする事が出来ます。

データは下記のような形で見れます。

←高温状態での試験
←低温状態での試験
←応力条件下での試験
←振動条件下での試験

濃い緑の線は初期から既に不安定状態にあり、100sを越えた時点で ハードFAIL状態になっています。
赤い線は100s手前で不安定動作が起こっていますが、その後は安定しています。
濃い青（下）のグラフは1万秒の試験で【1度だけ】不安定な状態を記録していますが、後は問題ない事になっています。

この中で最も怖いのが赤い線や濃い青の線、つまりある条件下で不安定な状態が【数回】のみ起こっているという事が検知できた場合です。これがなんなのかを解明しないと、デバイスと基板はいつどの状態で不安定になるかが分かりません。

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