この写真が今回紹介されたAMX-400シリーズのテスターだ。第一印象としてはとてもコンパクトにまとまっているという感じだ。まずはポイントとして
■ウェハーソート＆フィナルテスト用システム
■96pinアナログ/デジタル測定ポート
■最大32サイト同時測定
■ハイスピードプロダクションシステム
■高精度データポート
■アップグレーダブルシステム
■低価格システム

では、実際のスペックを見てみよう
■VIモジュール（Voltage/Current）
　 ⇒±32μV〜±100V
　 ⇒±60pA 〜±2A
■VM（Voltmeter Module）
　 ⇒±32μV〜±200V
■DTHM（Digital Test Head Module）
　 ⇒64pinまでのDigital I/O（8pinグループ）
　 ⇒標準128Kキャプチャー/pin
　 ⇒ドライブ/レシーブレベル＠-2V〜+7V
■その他の測定モジュール
　 ⇒PowerVIモジュール
　 ⇒Time測定/パルスジェネレータモジュール
　 ⇒Arbitrary波形発生モジュール
　 ⇒波形デジタイザーモジュール
　 ⇒GPIB制御モジュール
　 ⇒その他カスタムモジュール可能

テスターイメージ（SemiconWest2008ブースにて）

展示ブースのイメージ。FETtest社はJim Kufis氏がCEOとしてランニングする会社であり、実はKufis氏はThermonics社もランニングする事業主でもある。

今回このAMXシリーズは元々Amicronix社の製品だが、今回Kufis氏がこの会社を購入、独自の技術を更に追加させ、このシリーズが日の目を見ることとなった。

最近の半導体は製造コストと同時に「検査コスト」が非常に高価になってきている。良い製品を出荷する為には検査は必要だ。しかし、本当に世の中にあるテスターが「オーバースペック」になっていないか、デバイスマニュファクチャーは見直す時期に来ている。「Better to have」と「Must to have」を切り分けると言う事だ。それを本当に実現できるのは「廉価版」ではないか？「Must to have」だけをプロダクションへ、そのコンセプトをKufis氏が実際に実現するためにAMX-400は発表された。

詳しい情報に関しては下記から問い合わせて欲しい