米テスト・アドバンテージ社製のウエハーテストデータ解析ソフトウエア「Ｓｔｒｅｅｔｗｉｓｅ（ストリートワイズ）」の取り扱う同社では、半導体デバイスに対する信頼性要求の高まりを受け、販売事業が好調に推移している。
同製品は、初期不良を起こす可能性のあるデバイス（アウトライア）をウエハーテスト段階で発見するための解析ツール。アウトライアをウエハーテスト段階で発見することで、デバイスの信頼性向上はもちろん、高額なテスト装置の削減、バーンインや信頼性試験の削減に寄与する。
具体的な解析手法は大きく分けて、パラメトリック解析、マップ解析、ロットレベル解析の三つとなる。パラメトリック解析では、データ分布形状を自動的に判別し、その分布に適したアウトライア検出アルゴリズムを自動選別する。またそのデータ分布とテストリミットとの位置関係からアウトライア選別基準を自動調節することが可能。さらにアウトライアをその品質レベルでグレード分けすることができる。マップ解析では、ステッパーに起因するウエハー面内の欠陥検出や不良品に隣接する良品のデバイス検出(プロキシミティ解析）集団不良の検出（クラスター検出）などをすべて全自動で行うことができる。
解析の流れとしては、テスターからのテストログデータをホストコンピューターを通じて取得する。
同製品の導入前と導入後を比較すると、0.14％のイールドインパクトでアウトライアの除去に成功しており、デバイスの信頼性向上に大きく貢献している。また、他社ではこうしたアウトライアの検出システムを導入することで、初期不良率が30〜60％減少、歩留まりロスは最大でも0.6〜2.5％になることを論文を通じて発表しており、信頼性の向上とコストメリットの双方から極めて有用なシステムであることを表している。
トヨタ自動車をはじめ様々な会社で採用されており、特に大手半導体メーカーのＳＴマイクロエレクトロニクスでは、世界各地にある拠点に同製品を導入している。実際に初期不良は3分の1以下に低減したという。基本的なビジネス形態は、テスター1台につき1ライセンスというかたちで進めている。
昨今、カーエレクトロニクス化による車載用半導体の需要増に伴い、高信頼性確保の観点から同製品の引き合いが非常に強くなってきているという。今後も車載用半導体で強みを持つ日本市場を重要マーケットと位置付け、事業展開を強化していく考え。
