
■試験回路上の寄生成分 |

■寄生成分のバラつきを抑えつつ、複雑なプローブ配置も可能としている |
試験回路上に寄生成分が存在する事で、様々な弊害が生じる。例えば抵抗(R)やインダクタンス(L)の成分は測定スピードに影響が生じてしまう。キャパシタンス(C)の成分は測定結果にリンギングとして現れる場合もある。
寄生成分が与える影響を下記に示す(SPICE:Simulation Program with Integrated Circuit Emphases結果)
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図1:寄生なし(寄生成分Ld, Lsが1nHのみの場合)
この状態が理想的な設定
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図2:Ldのみに寄生(Ld=300nH, Ls=1nHの場合) |

図3:Lsのみに寄生(Ld=1nH, Ls=300nHの場合)
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図4:Ld, Ls両方に寄生(Ld/Ls=150nHの場合)
この状態が最も現実の測定に近い設定 |

実際にFAT Probeのシステムを用いて測定を行い、SPICEと結果を比べてみました。結果は79nHと判明。
さらにティアテックでは、テストフィクスチャの回路改善など常に改良を重ね、より良い測定環境を実現できるように取り組んでおります。
(上記結果は参考値であり、保証するものではありません)
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