今回は多くのお問い合わせをもらっているIP商品の中から、下記のWhite Paperを紹介しよう。
■半導体欠陥モードの予測技術
■ウルトラディープサブミクロンテクノロジーによるNBTIを発見するアプローチ法
■FPGA内BGA欠陥のリアルタイムBIST検出
この3つの内容を全て和訳した。ダウンロードをしてぜひ内容を見て頂きたい。

今回３つのホワイトペーパーをアップロードするが、その概要を簡単に説明しよう。

■半導体欠陥モードの予測技術
酸化膜やトランジスタ、配線等の信頼性を見るうえで、今までにない考え方、予測セルを埋め込むとどういう利点があるかを説明している。

■ウルトラディープサブミクロンテクノロジー
　 によるNBTIを発見するアプローチ法
pchデバイスにおきる欠陥、NBTIをBISTを利用することで故障回路予測をする手法を説明している。

■FPGA内BGA欠陥のリアルタイムBIST検出
BGAの半田ボールが壊れている（もしくは微妙に導通/絶縁状態を繰り返す）状態で、PCBボードはそのままでどのボールがその状態に陥っているのかを電気的に検出する手法を説明している。

ティアテックではこれらのBIST（IP＜測定手法＞）を販売している。下記の資料請求フォームより問い合わせてもらいたい。